040.1785.201211
ՀԱՅԱՍՏԱՆԻ ՀԱՆՐԱՊԵՏՈՒԹՅԱՆ ԿԱՌԱՎԱՐՈՒԹՅՈՒՆ
ՈՐՈՇՈՒՄ
15 դեկտեմբերի 2011 թվականի N 1785-Ն
ՀԱՅԱՍՏԱՆԻ ՀԱՆՐԱՊԵՏՈՒԹՅՈՒՆԻՑ ԱՐՏԱՀԱՆՎՈՂ ԵՎ ՀԱՅԱՍՏԱՆԻ ՀԱՆՐԱՊԵՏՈՒԹՅԱՆ ՏԱՐԱԾՔՈՎ ՏԱՐԱՆՑԻԿ ՓՈԽԱԴՐՎՈՂ ԵՐԿԱԿԻ ՆՇԱՆԱԿՈՒԹՅԱՆ` ՀՍԿՎՈՂ ԱՊՐԱՆՔՆԵՐԻ, ԻՆՉՊԵՍ ՆԱԵՎ ՓՈԽԱՆՑՎՈՂ ԵՐԿԱԿԻ ՆՇԱՆԱԿՈՒԹՅԱՆ ՏԵՂԵԿԱՏՎՈՒԹՅԱՆ ԵՎ ՄՏԱՎՈՐ ԳՈՐԾՈՒՆԵՈՒԹՅԱՆ ԱՐԴՅՈՒՆՔՆԵՐԻ` ՀՍԿՎՈՂ ՈՉ ՆՅՈՒԹԱԿԱՆ ԱՐԺԵՔՆԵՐԻ ՑԱՆԿԵՐԸ ՀԱՍՏԱՏԵԼՈՒ ԵՎ ՀԱՅԱՍՏԱՆԻ ՀԱՆՐԱՊԵՏՈՒԹՅԱՆ ԿԱՌԱՎԱՐՈՒԹՅԱՆ 2007 ԹՎԱԿԱՆԻ ՀՈՒԼԻՍԻ 6-Ի N 822-Ն ՈՐՈՇՈՒՄՆ ՈՒԺԸ ԿՈՐՑՐԱԾ ՃԱՆԱՉԵԼՈՒ ՄԱՍԻՆ
(6-րդ մաս)
1C354 Բույսերի համար վտանգավոր պաթոգենները, ինչպիսիք են.
a. Վիրուսները, որոնք ունեն բնական ծագում կամ փոփոխվել են «մեկուսացված կուլտուրաների» ձևով, կամ որպես նյութ, ներառյալ կենդանի նյութը, որը նպատակայնորեն ներարկվել է կամ վարակվել այդ կուլտուրաներով, ինչպիսիք են.
1. Կարտոֆիլի Անդյան լատենտային վիրուսը;
2. Կարտոֆիլի պալարների իլիկաձևություն առաջացնող վիրոիդը;
b. Մանրէները` և բնական ծագում ունեցող, և ուժեղացված կամ փոփոխված, կամ «մեկուսացված կուլտուրաների» ձևով կամ որպես նյութ, որը նպատակայնորեն ներարկվել կամ վարակվել է այնպիսի կուլտուրաներով, ինչպիսիք են.
1. Բույսի տերևի այրոց առաջացնող Քսանտոմոնաս ալբինիլեանս մանրէները (Xantomonas Albinileans),
2. Բույսի տերևի վրա բծեր առաջացնող Քսանտոմոնաս աքսոնոպոդիս մանրէները [Xanthomonas axonopodis pv. citri (Xanthomonas campestris pv. citri A) [Xanthomonas campestris pv. citri];];
3. Քսանտոմոնաս օրիզե [Xanthomonas oryzae pv. oryzae (Pseudomonas campestris pv. oryzae)];
4. Կլավիբակտեր միչիգանենսիս [ձողաձև բուսական բակտերիա, որը օղակաձև պարուրում է կարտոֆիլի պալարները] (Clavibacter michiganensis subsp. Sepedonicus; Corynebacterium michiganensis subsp. Sepedonicum; Corynebacterium sepedonicum)
5. Ռալստոնիա սոլանցեարում ռասա 3, բիովար 2 (Ralstonia solanacearum, race 3, biovar 2);
c. Սնկեր` բնական, և ուժեղացված կամ փոփոխված, կամ «մեկուսացված կենդանի կուլտուրաների» ձևով կամ որպես նյութ, որը նպատակայնորեն ներարկվել է, կամ ախտահարվել այնպիսի կուլտուրաներով, ինչպիսիք են.
1. Կոլետոտրիխում կահավե, սուրճի սնկային հիվանդություն ((Colletotrichum kahawae) Colletotrichum coffeanum var. virulans);
2. Բրնձի բերքի վրա գորշ բծեր առաջացնող սնկային բակտերիա Կոքլիոբոլուս միյաբեանուս (Հելմինտոսպորիում օրիզե) (Cochliobolus miyabeanus (Helminthosporium oryzae))
3. Բույսի տերևի գունաթափություն առաջացնող անկային բակտերիա - միկրոցիկլուս ուլեի (հոմանիշը` Դոթիդելլա ուլեի)) (Microcyclus ulei (syn. Dothidella ulei))
4. Փուչինիա գրամինիս [Ցորենի բերքի վրա ժանգանման սնկային հիվանդություն առաջացնող բակտերիա] (Puccinia graminis ssp. graminis var. graminis / Puccinia graminis ssp. graminis var. stakmanii (Puccinia graminis [syn. Puccinia graminis f. sp. tritici]);
5. Փուչինիա ստրիիֆորմիս [ցորենազգիների վրա ժանգային բծեր առաջացնող բակտերիա] (Puccinia striiformis (syn. Puccinia glumarum))
6. Մագնապորտե օրիզե [բրնձի հատիկի վզիկի փտախտ առաջացնող բակտերիա] (Magnaporthe oryzae (Pyricularia oryzae)
7. Պերոնոսկլերոսպորա ֆիլիպինենսիս [ֆիլիպինյան ալրացող /փաթիլավոր բորբոս] Peronosclerospora philippinensis (Peronosclerospora sacchari);
8. Սկլերոֆտորա ռեյսիե [եգիպտացորենի և գարու տերևների հիվանդություն առաջացնող բակտերիա] (Sclerophthora rayssiae var. zeae);
9. Սինքիտրիում Էնդոբիոտիցիում [կարտոֆիլի պալարի վրա սև բծեր առաջացնող սնկային բակտերիա] Synchytrium endobioticium;
10. Տիլետիա ինդիկա [ցորենի հասկի երկականջացում առաջացնող բակտերիա] (Tilletia indica);
11. Տեկաֆորա սոլանի [կարտոֆիլի պալարի կոճղաբշտիկային հիվանդություն առաջացնող բակտերիա] (Thecaphora solani):
1C450 Թունավոր քիմիական նյութեր և տոսքիկ քիմիական նախանյութեր, և «քիմիական խառնուրդներ», որոնք կարող են պարունակել հետևյալ նյութերը.
Հ.Ծ. ՏԵ՛Ս ՆԱԵՎ ՀՈԴՎԱԾՆԵՐ 1C350, 1C351.d. ԵՎ ՌԱԶՄԱԿԱՆ ՆՇԱՆԱԿՈՒԹՅԱՆ ԱՊՐԱՆՔՆԵՐԻ ՎԵՐԱՀՍԿՄԱՆ ՑԱՆԿԸ
a. Թունավոր քիմիական նյութեր, ինչպիսիք են.
1. Ամիտոն. Օ,Օ - դիէթիլ S-[2- (դիէթիլամինո)էթիլ] ֆոսֆորոթիոլատ (78-53-5) և համապատասխան ալկիլացված կամ պրոտոնացված աղերը;
2. PFIB.1,1,3,3,3-պենտաֆտոր-2-(տրիֆտորոմեթիլ)-1-պրոպեն(382-21-8);
3. ՏԵ՛Ս ՌԱԶՄԱԿԱՆ ՆՇԱՆԱԿՈՒԹՅԱՆ ԱՊՐԱՆՔՆԵՐԻ ՑԱՆԿԸ BZ 3-քինուկլիդինիլ բենզիլատի (6581-06-2) համար;
4. Ֆոսգեն կարբոնիլ դիքլորիդ (75-44-5);
5. Ցիանոգեն քլորիդ (506-77-4);
6. Հիդրոգեն ցիանիդ (74-90-8);
7. Քլորպիկրին. տրիքլորոնիտրոմեթան (76-06-2):
Ծանոթագրություն 1. «Քիմիական զենքերի կոնվենցիայի անդամ չհանդիսացող երկրներ» արտահանելու համար 1C450 կետը չի վերահսկում «քիմիական խառնուրդները», որոնք պարունակում են մեկ կամ ավելի այնպիսի քիմիկատներ, որոնք հատկորոշված են 1C450.a.1. և .a.2. կետերում, որտեղ չկան առանձին հատկորոշված քիմիական բաղադրիչներ, որոնք ըստ խառնուրդի քաշի ունեն 1%-ից ավելի մեծ պարունակություն:
Ծանոթագրություն 2: «Քիմիական զենքերի կոնվենցիայի անդամ հանդիսացող երկրներ» արտահանելու համար 1C450 կետը չի վերահսկում այն «քիմիական խառնուրդները», որոնք պարունակում են մեկ կամ ավելի այնպիսի քիմիկատներ, որոնք հատկորոշված են 1C450.a.1. և .a.2. կետերում, որոնցում չկան առանձին հատկորոշված քիմիական բաղադրիչներ, և որոնք ըստ խառնուրդի քաշի 30%-ից ավելի մեծ պարունակություն ունեն:
Ծանոթագրություն 3. 1C450 կետը չի վերահսկում «քիմիական խառնուրդները», որոնք պարունակում են մեկ կամ ավելի այնպիսի քիմիկատներ, որոնք հատկորոշված են 1C450.a.4., .a.5., .a.6. և .a.7. կետերում, որոնցում չկան առանձին հատկորոշված քիմիական բաղադրիչներ, և որոնք ըստ խառնուրդի քաշի 30%-ից ավելի մեծ պարունակություն ունեն:
Ծանոթագրություն 4. 1C450 կետը չի վերահսկում այնպիսի նյութեր, որոնք ճանաչված են որպես սպառողական, մանրածախ իրացման կամ անձնական օգտագործման համար փաթեթավորված ապրանքներ:
b. Թունավոր քիմիական նախանյութեր/պրեկուրսորներ, ինչպիսիք են.
1. քիմիկատներ, բացի նրանցից, որոնք հատկորոշված են Ռազմական նշանակության ապրանքների վերահսկման ցանկում և 1C350 կետում, որոնք պարունակում են ֆոսֆորի ատոմ, որի հետ կապված է մեկ մեթիլ, էթիլ կամ պրոպիլ (նորմալ կամ իզո) խումբ, բայց առանց ածխածնի ատոմների
Ծանոթագրություն. 1C450.b.1. կետով չի վերահսկվում ֆոնոֆոսը. O-էթիլ S-ֆենիլ էթիլֆոսֆոնոթիոլոթիոնատը (O-Ethyl S-phenyl ethylphosphonothiolothionate) (944-22-9)
2. N,N-դիալկիլ [մեթիլ, էթիլ կամ պրոպիլ (նորմալ կամ իզո)) ֆոսֆորամիդի դիհալիդները, բացի N,N-դիմեթիլամինոֆոսֆորիլ դիքլորիդից (N,N-Dimethylaminophosphoryl dichloride);
Հ.Ծ. տե՛ս 1C350.57. դիմեթիլամինոֆոսֆորիլ դիքլորիդի (N,N-Dimethylaminophosphoryl dichloride) համար:
3. Դիալկիլ [մեթիլ, էթիլ կամ պրոպիլ (նորմալ կամ իզո)] - N,N-դիալկիլ [մեթիլ, էթիլ կամ պրոպիլ (նորմալ կամ իզո)]- ֆոսֆորամիդատներ, բացի այն դիէթիլ-N,N-դիմեթիլֆոսֆորամիդատից, որը հատկորոշված է 1C350 կետում;
4. N,N-դիալկիլ [մեթիլ, էթիլ կամ պրոպիլ (նորմալ կամ իզո)] ամինոէթիլ-2-քլորիդներ և համապատասխան պրոտոնացված աղերը, բացի այն N,N-դիիզոպրոպիլ-(բետա)-ամինոէթիլ քլորիդից կամ N,N-դիիզոպրոպիլ-(բետա)-ամինոէթիլ քլորիդի հիդրոքլորիդից, որոնք հատկորոշված են 1C350 կետում;
5. N,N-դիալկիլ [մեթիլ, էթիլ կամ պրոպիլ (նորմալ կամ իզո)] ամինոէթան-2-ոլներ և համապատասխան պրոտոնացված աղերը, բացի այն N,N-դիիզոպրոպիլ-(բետա)-ամինոէթանոլից (96-80-0) և N,N-դիէթիլամինոէթանոլից (100-37-8), որոնք հատկորոշված են 1C350 կետում:
Ծանոթագրություն. 1C450.b.5. կետով չեն վերահսկվում.
a. N,N-դիմեթիլամինոէթանոլը (108-01-0) և համապատասխան պրոտոնացված աղերը;
b. Դիէթիլամինոէթանոլի (100-37-8) պրոտոնացված աղերը
6. N,N-դիալկիլ [մեթիլ, էթիլ կամ պրոպիլ (նորմալ կամ իզո)] ամինոէթան-2-թիոլները և համապատասխան պրոտոնացված աղերը, բացի այն N,N-դիիզոպրիլ-(բետա)-ամինոէթան թիոլից, որը հատկորոշված է 1C350 կետում;
7. Տես` 1C350 Էթիլդիէթանոլամինի համար (139-87-7)
8. Մեթիլդիէթանոլամին (105-59-9):
Ծանոթագրություն 1. «Քիմիական զենքերի կոնվենցիայի անդամ չհանդիսացող երկրներ» արտահանելու համար 1C450 կետը չի վերահսկում «քիմիական խառնուրդները», որոնք պարունակում են մեկ կամ ավելի այնպիսի քիմիկատներ, որոնք հատկորոշված են 1C450.b.1., .b.2., b.3., b.4., b.5. և b.6. կետերում, որտեղ չկան առանձին հատկորոշված քիմիական բաղադրիչներ, որոնք ըստ խառնուրդի քաշի 10%-ից ավելի մեծ պարունակություն ունեն:
Ծանոթագրություն 2. «Քիմիական զենքի կոնվենցիայի անդամ հանդիսացող երկրներ» արտահանելու համար 1C450 կետը չի վերահսկում «քիմիական խառնուրդները», որոնք պարունակում են մեկ կամ ավելի այնպիսի քիմիկատներ, որոնք հատկորոշված են 1C450.b.1., .b.2., .b.3., .b.4., .b.5. և .b.6. կետերում, որտեղ առանձին հատկորոշված քիմիական բաղադրիչները ըստ խառնուրդ քաշի ունեն 30%-ից ավելի մեծ պարունակություն:
Ծանոթագրություն 3. 1C450 կետը չի վերահսկում «քիմիական խառնուրդները», որոնք պարունակում են մեկ կամ ավելի այնպիսի քիմիկատներ, որոնք հատկորոշված են 1C450.b.8. կետում և որոնցում ոչ մի առանձին հատկորոշված քիմիական բաղադրիչ չի գերազանցում ըստ խառնուրդի քաշի 30%-ից ավելի մեծ պարունակությունը:
Ծանոթագրություն 4: 1C450 կետը չի վերահսկում այնպիսի ապրանքներ, որոնք ճանաչված են որպես մանրածախ իրացման կամ անձնական օգտագործման համար փաթեթավորված սպառողական ապրանքներ:
1D Ծրագրային ապահովում
1D001 Հատուկ նախագծված կամ ձևափոխված «ծրագրային ապահովում», 1B001-ից մինչև 1B003 կետերով կարգավորվող սարքավորումների «մշակման», «արտադրության» կամ «օգտագործման» համար:
1D002 «Ծրագրային ապահովում», որը նախատեսված է օրգանական «մատրիցաների»/ձուլամայրերի, մետաղական «մատրիցաների» կամ ածխածնային «մատրիցաների» լամինատների կամ «բաղադրանյութերի» «մշակման» համար:
1D003 «Ծրագրային ապահովում», որը հատուկ նախագծված է կամ փոփոխված, որպեսզի սարքավորումը կարողություն ստանա 1A004.c. կամ 1A004.d. կետում հատկորոշված գործառույթները կատարելու համար:
1D101 «Ծրագրային ապահովում», որը հատուկ նախագծված է 1B101, 1B102, 1B115, 1B117, 1B118 կամ 1B119 կետերով հատկորոշված արտադրանքի օգտագործման կամ շահագործման համար:
1D103 «Ծրագրային ապահովում», որը հատուկ նախագծված է սահմանափակ ազդանշանների վերլուծության համար, ինչպիսիք են` անդրադարձված ռադիո ազդանշանները, ուլտրամանուշակագույն / ինֆրակարմիր և ակուստիկ ազդանշանները/ստորագրությունները:
1D201 «Ծրագրային ապահովում», որը հատուկ նախագծված է 1B201 կետով հատկորոշված ապրանքների «օգտագործման» համար:
1E Տեխնոլոգիա
1E001 «Տեխնոլոգիաներ», որոնք, ըստ Ընդհանուր տեխնոլոգիական ծանոթագրությունների, նախատեսված են 1A002-ից 1A005, 1A006, 1A007, 1B կամ 1C կետերով հատկորոշված սարքավորումների կամ նյութերի «նախագծման» կամ «արտադրության» համար:
1E002 Այլ «տեխնոլոգիաներ», ինչպիսիք են.
a. «Տեխնոլոգիաներ», որոնք նախատեսված են պոլիբենզոթիազոլների կամ պոլիբենզօքսազոլների «մշակման» կամ «արտադրության» համար,
b. «Տեխնոլոգիաներ», որոնք նախատեսված են` առնվազն մեկ վինիլեթերային մոնոմեր պարունակող ֆտորոէլաստոմերային միացությունների «մշակման» կամ «արտադրության» համար
c. «Տեխնոլոգիաներ», որոնք նախատեսված են հետևյալ կերամիկական փոշիների կամ ոչ «կոմպոզիտային» կերամիկական նյութերի մշակման կամ «արտադրության» համար:
1. Կերամիկական փոշիներ, որոնք ունեն բոլոր ստորև նշված բնութագրերը.
a. Հետևյալ կառուցվածքներից որևէ մեկը.
1. Ցիրկոնիումի պարզ կամ բարդ օքսիդներ և սիլիցիումի կամ ալյումինի բարդ օքսիդներ;
2. Բորի պարզ նիտրիդներ (որոնք ունեն խորանարդաձև բյուրեղական ձևեր);
3. Սիլիցիումի կամ բորի պարզ կամ բարդ կարբիդներ, կամ
4. Սիլիցիումի պարզ կամ բարդ նիտրիդներ:
b. Հետևյալ ընդհանուր մետաղական խառնուկներից որևէ մեկը (բացառությամբ հատուկ ավելացված հավելանյութերի).
1. 1000 մաս միլիոնից պակաս պարունակող պարզ օքսիդները կամ կարբիդները; կամ
2. 5000 մաս միլիոնից պակաս պարունակող բարդ միացությունները կամ պարզ նիտրիդները; և
c. Հետևյալներից որևէ մեկը.
1. Ցիրկոնիում, (CAS 1314-23-4), որի մասնիկների միջին չափը հավասար է կամ փոքր է 1 մկմ-ից և որը պարունակում է 5 մկմ-ից մեծ չափի ոչ ավելի քան 10% մասնիկներ,
2. Այլ կերամիկական փոշիներ, որոնց մասնիկների միջին չափը հավասար է կամ փոքր է 5 մկմ-ից և որոնց 10 մկմ գերազանցող չափ ունեցող մասնիկների պարունակությունը չի գերազանցում 10%;
2. Ոչ կոմպոզիտային կերամիկական նյութեր, որոնք պատրաստված են 1E002. c.1. կետում նշված նյութերից:
Ծանոթագրություն. 1E002.c.2. կետով չեն վերահսկվում հղկանյութերի մշակման և արտադրության «տեխնոլոգիաները»:
d. Չի կիրառվում:
e. «Տեխնոլոգիաջ 1C001 կետով հատկորոշված նյութերի հավաքման, շահագործման կամ վերանորոգման համար,
f. «Տեխնոլոգիա» 1A002 կամ 1C007.c կետերով հատկորոշված «կոմպոզիտային» կառուցվածքների, լամինատների կամ նյութերի վերանորոգման համար:
Ծանոթագրություն. 1E002.f. կետով չեն վերահսկվում քաղաքացիական նշանակության թռչող սարքերի «կոմպոզիտային» կառուցվածքների վերանորոգման համար նախագծված «տեխնոլոգիաները», լամինատները կամ նյութերը, որոնք օգտագործում են «թռչող սարքերի» արտադրողների ձեռնարկներում նշված ածխածնային «թելավոր կամ թելանման նյութերը» և էպոքսիդային խեժերը:
g. «Գրադարանները», որոնք հատուկ նախագծված են կամ ձևափոխված` սարքավորմանը այնպիսի կարողություններ փոխանցելու համար, որոնք հատկորոշված են 1A004.c. կամ 1A004.d. կետերում:
1E101 «Տեխնոլոգիա», որը համաձայն Ընդհանուր տեխնոլոգիական ծանոթագրության, նախագծված է 1A102, 1B001, 1B101, 1B102, 1B115-ից 1B119, 1C001, 1C101, 1C107, 1C111-1C118, 1D101 կամ 1D103 կետերով հսկվող արտադրանքների «օգտագործման» համար:
1E102 «Տեխնոլոգիա», որը համաձայն Ընդհանուր տեխնոլոգիական ծանոթագրության, նախագծված է 1D001, 1D101 կամ 1D103 կետերով հատկորոշված «ծրագրային ապահովման» «մշակման» համար:
1E103 «Տեխնոլոգիա»` ավտոկլավներում կամ հիդրոկլավներում ջերմաստիճանի, ճնշման կամ մթնոլորտի կարգավորման համար, երբ օգտագործվում է «կոմպոզիտների» կամ մասնակիորեն մշակված «կոմպոզիտների» «արտադրության» համար:
1E104 «Տեխնոլոգիա», կապված պիրոլիզային եղանակով ստացվող նյութերի «արտադրության» հետ, որոնք ձևավորվում են ձուլման ձևանմուշով կամ այլ սուբստրատի վրա նախանյութային/պրեկուրսորային գազերից, որոնք քայքայվում են 1573K (1300oC)-ից մինչև 3173K (2900oC) ջերմաստիճանում և 130 Պա-ից մինչև 20 կՊա ճնշման տակ:
Ծանոթագրություն. 1E104 կետը ներառում է նաև «տեխնոլոգիա» նախանյութային/պրեկուրսորային գազերի միացությունների, հոսքերի արագությունների և ընթացքների վերահսկման ռեժիմների և պարամետրերի համար:
1E201 «Տեխնոլոգիա», որը, համաձայն Ընդհանուր տեխնոլոգիական ծանոթագրության նախատեսված է 1A002, 1A007, 1A202, 1A225-ից 1A227, 1B201, 1B225-ից 1B234, 1C002.b.3 կամ b.4., 1C010.b., 1C202, 1C210, 1C216, 1C225-ից 1C241 կամ 1D201 կետերով սահմանված արտադրանքների «օգտագործման» համար:
1E202 «Տեխնոլոգիա», որը համաձայն Ընդհանուր տեխնոլոգիական ծանոթագրության, նախատեսված է 1A007, 1A202 կամ 1A225-ից 1A227 կետերով հատկորոշված ապրանքների «մշակման» կամ «արտադրության» համար:
1E203 «Տեխնոլոգիա», որը համաձայն Ընդհանուր տեխնոլոգիական ծանոթագրության, նախատեսված է 1D201 կետով հատկորոշված «ծրագրային ապահովման» «մշակման» համար:
ՀԱՎԵԼՎԱԾ I (ՄԱՍ IV - Կատեգորիա 2)
ԿԱՏԵԳՈՐԻԱ 2 - ՆՅՈՒԹԵՐԻ ՄՇԱԿՈՒՄ
2A Համակարգեր, սարքավորումներ և բաղադրամասեր
Հ.Ծ. Անաղմուկ առանցքակալների համար տես Ռազմական նշանակության ապրանքների վերահսկման ցանկը:
2A001 Հակաշփական առանցքակալներ կամ առանցքակալների համակարգեր և դրանց բաղադրամասերը, ինչպիսիք են.
Հ.Ծ. ՏԵՍ ՆԱԵՎ 2A101:
Ծանոթագրություն. 2A001 կետով չեն վերահսկվում այն առանցքակալները, որոնց գնդիկներն ունեն արտադրողի կողմից հատկորոշված 5-րդ կամ ավելի ցածր կարգ` ըստ ISO 3290 միջազգային ստանդարտների:
a. Գնդիկային կամ պինդ հոլովակավոր առանցքակալները, որոնք ունեն արտադրողի կողմից հատկորոշված ըստ ISO 492 Թույլատրելիության դասակարգման 4-րդ կարգ (կամ դրա ազգային համարժեքը) կամ ավելի բարձր կարգ և ունեն երկուստեք և «օղակներ», և «պտտվող մասեր»` պատրաստված մոնելից կամ բերիլիումից:
Ծանոթագրություն. 2A001.a. կետով չեն վերահսկվում կոնաձև հոլովակավոր առանցքակալները:
Տեխնիկական ծանոթագրություն
1. «Օղակը» կենտրոնախույս առանցքակալի շրջանակի օղակաձև մասն է, որն իր մեջ ունի շարժման մեկ կամ մի քանի հուներ (ISO 5593:1997).
2. «Պտտվող մասերը» - գնդակը կամ հոլովակը, որոնք շարժվում են շարժման ակոսների միջով (ISO 5593:1997):
b. Չի կիրառվում:
c. Ակտիվ մագնիսական առանցքակալների համակարգերը, որոնք կիրառում են հետևյալներից որևէ մեկը.
1. Նյութեր` 2,0T կամ ավելի բարձր մագնիսական հոսանքի տեսակարար խտությամբ, և 414 ՄՊա-ից բարձր հոսելիության տեսակարար սահմանով;
2. Բոլոր էլեկտրամագնիսական եռատարածաչափ/ 3D, միաբևեռ/կովալենտ շեղման դիզայնները` սոլանոիդների/էլեկտրական շարժաբերների համար; կամ
3. Բարձր ջերմաստիճանի` 450K (177oC) կամ ավելի բարձր դիրքային տվիչները:
2A101 Արմատական-հենակային գնդիկավոր առանցքակալները, բացի նրանցից, որոնք հատկորոշված են 2A001 կետում, և ունեն թույլատրելիության բոլոր բնութագրերը, որոնք հատկորոշվում են համաձայն ISO 492 Թույլատրելիության թիվ 2 կարգի (կամ ANSI/ABMA Std 20 Թույլատրելիության ABEC-9 կարգի կամ այլ ազգային համարժեք ստանդարտների), կամ ավելի բարձր կարգի, որն ունի բոլոր հետևյալ բնութագրերը.
a. Ներքին օղակն ունի 12 մմ-ից մինչև 50 մմ տրամագիծ;
b. Արտաքին օղակն ունի 25 մմ-ից 100 մմ տրամագիծ; և
c. Լայնությունը 10 մմ-ից 20 մմ:
2A225 Հալքանոթներ` պատրաստված հեղուկ ակտինիդային մետաղների ազդեցության նկատմամբ կայուն նյութերից, ինչպիսիք են.
a. Հալքանոթներ, որոնք ունեն հետևյալ երկու բնութագրերը.
1. 150 սմ3-ից մինչև 8000 սմ3 ծավալ, և
2. պատրաստված են կամ ծածկույթապատված հետևյալ նյութերից որևէ մեկից կամ հետևյալ նյութերի համակցությունից, որոնց մեջ խառնուկների ընդհանուր մակարդակը 2% է (ըստ կշռի) կամ դրանից պակաս.
a. Կալցիումի ֆտորիդ (CaF2);
b. Կալցիումի ցիրկոնատ (մետացիրկոնատ) (Ca2ZrO3);
c. Ցերիումի սուլֆիդ (Ce2S3);
d. Էրբիումի օքսիդ (էրբիա) (Er2O3);
e. Հաֆնիումի օքսիդ (հաֆնիա) (HfO2);
f. Մագնեզիումի օքսիդ (MgO);
g. Նիոբիումի-տիտան-վոլֆրամի ազոտացված համաձուլվածք (մոտավորապես 50%
Nb, 30% Ti, 20% W):
h. Իտրիումի օքսիդ (իտրիա) (Y2O3); կամ
i. Ցիրկոնիումի օքսիդ (ZrO2)
b. Հալքանոթներ, որոնք ունեն հետևյալ երկու բնութագրերը.
1. 50 սմ3-ից մինչև 2 000 սմ3 ծավալ, և
2. պատրաստված են կամ ծածկույթապատված տանտալով, որն ունի 99.9% (ըստ կշռի) կամ ավելի բարձր մաքրություն:
c. Հալքանոթներ, որոնք ունեն բոլոր հետևյալ բնութագրերը.
1. 50 սմ3-ից մինչև 2000 սմ3 ծավալ,
2. պատրաստված են կամ ծածկույթապատված տանտալով, որն ունի 98% (ըստ կշռի) կամ ավելի բարձր մաքրություն,
3. ծածկույթապատված են տանտալի կարբիդով, նիտրիդով կամ բորիդով (կամ դրանց ցանկացած համակցությունից):
2A226 Կափույրներ, որոնք ունեն հետևյալ բնութագրերը.
a. 5 մմ կամ ավելի մեծ «նոմինալ չափ»;
b. ունեն սիլֆոնային խտարար, և
c. ամբողջությամբ պատրաստված են ալյումինից, ալյումինային համաձուլվածքից, նիկելից կամ առնվազն 60% նիկել պարունակող համաձուլվածքից կամ ծածկույթապատված են դրանցով.
Տեխնիկական ծանոթագրություն.
Տարբեր մուտքային և ելքային տրամագծեր ունեցող կափույրների համար «նոմինալ չափ» արտահայտությունը 2A226 կետում վերաբերում է ամենափոքր տրամագծին:
2B Փորձարկային, հսկիչ և արտադրական սարքավորումներ
Տեխնիկական ծանոթագրություններ.
1. Երկրորդային զուգահեռ կոորդինատային առանցքները (օրինակ` w-առանցքը հորիզոնական ներտաշման ֆրեզների վրա կամ երկրորդային պտտման առանցքը, որի կենտրոնական գիծը զուգահեռ է պտտման առաջնային առանցքին) չեն մտնում կոորդինատային առանցքների ընդհանուր թվի մեջ: Պտտման առանցքները 360o աստիճան պտտվելու կարիք չունեն: Պտտման առանցքը կարող է կառավարվել գծային տեղաշարժվող սարքով (օրինակ` պտուտակահանով կամ ձողային ամբարձիչով/դոմկրատով).
2. 2B կետի նպատակներով առանցքների թիվը, որոնք կարող են միաժամանակ կոորդինացվել «եզրագծային կառավարման» համար, այն առանցքների թիվն է, որոնց երկայնքով կամ որոնց շուրջը, մասի մշակման ընթացքում միաժամանակյա և փոխկապակցված շարժումները կատարվում են մշակվող մասի և գործիքի միջև: Դա չի ներառում որևէ լրացուցիչ առանցք, որի երկայնքով կամ որի շուրջը այլ հարակից շարժումներ են կատարվում մեքենայի ներսում, ինչպես օրինակ.
a. Հղկող-անիվի համակարգերը` հղկող հաստոցներում;
b. Զուգահեռաբար պտտվող առանցքները` նախագծված առանձին մասերի վրա հագցնելու համար;
c. Մի գծի վրա պտտվող առանցքները, նախագծված նույն մասը պտտելու միջոցով` դրա վրա տարբեր ծայրերից աշխատելու համար:
3. Առանցքի տեխնիկական հատկորոշումը պետք է համապատասխանի ISO 841:2001` Արդյունաբերական ավտոմատ համակարգեր և ինտեգրացիա - Հաստոցների թվային ծրագրային կառավարում-կոորդինատների համակարգեր և շարժման սպեցիֆիկացիաներ Միջազգային ստանդարտին:
4. 2B001-ից մինչև 2B009 կետերի համար «թեքվող իլը» դիտվում է որպես պտտման առանցք:
5. «Հայտարարագրված «միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» կարող է կիրառվել յուրաքանչյուր հաստոցային մոդելի համար որպես առանձին մեքենաների փորձարկման այլընտրանք և որոշվում է հետևյալ կերպ.
a. Ընտրել փորձարկվող մոդելի հինգ հաստոց;
b. Չափել գծային առանցքների ճշգրտությունը (R,R) համաձայն ISO 230/2:2014 ստանդարտի և գնահատել «միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» հինգ մեքենաներից յուրաքանչյուրի ամեն մի առանցքի համար;
c. Որոշել «միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» արժեքների միջին թվաբանական արժեքը բոլոր հինգ հաստոցների յուրաքանչյուր առանցքի համար: «Միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականության» (UPR) միջին թվաբանական արժեքները դառնում են մոդելի յուրաքանչյուր առանցքի համար հաստատագրված արժեքներ (UPRx, UPRy...);
d. Քանի որ Կատեգորիա 2-ի ցանկը վերաբերում է գծային առանցքներից յուրաքանչյուրին, ապա «հայտարարագրված» «միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականության» թիվը պետք է համապատասխանի գծային առանցքների թվին;
e. Եթե 2B001.a.-ից մինչև 2B001.c. կետերով չհսկվող որևէ հաստոցային մոդելի որևէ առանցք ունի «հայտարարագրված» «միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականություն», որը հավասար է կամ պակաս է յուրաքանչյուր հաստոցի մոդելի համար հատկորոշված «միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունից», գումարած 0,7 մկմ, ապա կառուցողից պահանջվում է ճշգրտության մակարդակը վերաերաշխավորել ամեն տասնութ ամիսը մեկ անգամ:
6. 2B001.a.-ից մինչև 2B001.c. կետերի նպատակներով հաստոցային գործիքների «միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականության» չափման անորոշության աստիճանը, չի դիտարկվում, ինչպես հատկորոշված է ISO 230-2:2014 կամ համարժեք ազգային ստանդարտով:
7. 2B001.a.-ից մինչև 2B001.c. կետերի նպատակներով, առանցքների չափումը պետք է արվի ըստ փորձարկման գործընթացների, որոնք հատկորոշված են ISO 230-2:2014 ստանդարտի 5.3.2. կետում: Երկու (2) մետրից ավելի երկար առանցքների փորձարկումները պետք է արվեն 2 մետրանոց հատվածների վրա: Չորս (4) մետրից ավելի երկար առանցքները պահանջում են բազմակի փորձարկումներ (օրինակ, երկու փորձարկում 4 մետրից ավելի երկար և մինչև 8 մետր երկարությամբ առանցքների համար, և երեք փորձարկումներ 8 մետրից ավելի երկար և մինչև 12 մետր երկարությամբ առանցքների համար), 2 մետրից ավելի երկար հատվածներից յուրաքնաչյուրի վրա և առանցքի երկայնքով հավասար բաշխված ինտերվալներով: Փորձարկման հատվածները հավասար են բաշխվում ամբողջ առանցքի երկայնքով, և որևէ ավելացած երկարություն հավասարապես բաշխվում է սկզբի և վերջի փորձարկային ինտերվալների միջև: Բոլոր փորձարկված հատվածների ամենափոքր «միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականության» արժեքը պետք է զեկուցվի:
2B001 Մետաղական հաստոցներ, դրանց ցանկացած համակցությունը` մետաղներ, կերամիկա կամ «կոմպոզիտներ» հղկելու/հեռացնելու (կամ հատելու) համար, որը համաձայն արտադրողի տեխնիկական սպեցիֆիկացիայի կարող է զինվել էլեկտրոնային սարքերով «թվային վերահսկողության» համար, ինչպես օրինակ.
Հ.Ծ. ՏԵ՛Ս ՆԱԵՎ 2B201 կետը:
Ծանոթագրություն 1. 2B001 կետով չեն վերահսկվում հատուկ նպատակի համար ծառայող հաստոցները, որոնց կիրառումը սահմանափակվում է գործիքային արտադրությամբ: Այդ հաստոցների համար տես 2B003.
Ծանոթագրություն 2. 2B001 կետով չեն վերահսկվում հատուկ նպատակի համար ծառայող հաստոցները, որոնց կիրառումը սահմանափակվում է հետևյալ գործիքների արտադրությամբ.
a. Արմունկավոր գլաններ կամ ճանկավոր/բաշխիչ գլաններ;
b. Գործիքներ կամ հատիչներ;
c. Արտամղիչ/էքստրուզիվ պրեսներ;
d. Փորագրված կամ նստակերտ/թրաշավոր զարդամասեր; կամ
e. Ատամնաբուժական պրոտեզներ:
Ծանոթագրություն 3. Հաստոցը, որն ունի խառատային, ֆրեզերային կամ հարթեցնող կարողություններից առնվազն երկուսը (օրինակ, խառատային հաստոց, ֆրեզերային կարողությամբ) պետք է գնահատվի ըստ կիրառելիության յուրաքանչյուր հոդվածի 2B001.a., .b. կամ .c. կետերով:
Հ.Ծ. Օպտիկական հղկման հաստոցների համար, տես 2B002 կետը:
a. Խառատային հաստոցներ, որոնք ունեն երկու կամ ավելի առանցքներ, որոնք կարող են միաժամանակ կոորդինացվել «եզրագծային կառավարման համար» և ունեն հետևյալ բնութագրերից որևէ մեկը.
1. «Միակլողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավ է) 0.9 մկմ-ից, մեկ կամ ավելի գծային առանցքների երկայնքով` 1,0 մ-ից պակաս քայլքի երկարությամբ; կամ
2. «Միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավ է) 1,1 մկմ-ից` մեկ կամ ավելի գծային առանցքների երկայնքով, 1,0 մ-ի հավասար կամ ավելի մեծ քայլքի երկարությամբ;
Ծանոթագրություն 1. 2B001.a. կետով չեն վերահսկվում խառատային հաստոցները, որոնք հատուկ նախագծված են կոնտակտային ոսպնյակների արտադրության համար և ունեն բոլոր հետևյալ բնութագրերը.
a. Հաստոցային վերահսկիչ, որը սահմանափակված է օֆտալմիկ հիմքով ծրագրային ապահովումով, մասնակի ծրագրավորված տվյալների մուտքագրման համար; և
b. Առանց վակուումի փամփուշտային մշակում:
Ծանոթագրություն 2. 2B001.a. կետով չեն վերահսկվում ձուլակտորների խառատային հաստոցները (Swissturn), որոնք, սահմանափակվում են միայն ձուլակտորի միջեզրային էլեկտրական կոնտակտի ակոսների խառատմամբ, եթե ձուլակտորի առավելագույն տրամագիծը հավասար է կամ պակաս է 42 մմ-ից, և եթե հաստոցի վրա ձուլափամփուշտ տեղակայելու հնարավորություն չկա: Մեքենաները կարող են ունենալ շաղափող կամ ֆրեզերային կարողություններ` 42 մմ-ից պակաս տրամագիծ ունեցող մասեր մշակելու համար:
b. Ֆրեզերային հաստոցներ, որոնք ունեն հետևյալ բնութագրերերից որևէ մեկը.
1. Երեք գծային առանցքներ, գումարած մեկ պտտվող առանցք, որը կարող է կոորդինացվել միաժամանակ «եզրագծային կառավարման» համար, և ունի հետևյալ բնութագրերից որևէ մեկը.
a. «Միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավ է) 0,9 մկմ-ից` մեկ կամ ավելի գծային առանցքների երկայնքով` 1,0 մ-ից պակաս քայլքի երկարությամբ; կամ
b. «Միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավ է) 1,1 մկմ-ից` մեկ կամ ավելի գծային առանցքների երկայնքով, 1,0 մ-ի հավասար կամ ավելի մեծ քայլքի երկարությամբ;
2. Հինգ կամ ավելի առանցքներ, որոնք կարող են միաժամանակ կոորդինացվել «եզրագծային կառավարման» համար և ունեն հետևյալ բնութագրերից որևէ մեկը.
a. «Միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավ է) 0,9 մկմ-ից` մեկ կամ ավելի գծային առանցքների երկայնքով` 1,0 մ-ից պակաս քայլքի երկարությամբ;
b. «Միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավ է) 1,4 մկմ-ից` մեկ կամ ավելի գծային առանցքների երկայնքով, 1 մ-ի հավասար կամ ավելի մեծ և 4 մ-ից պակաս քայլքի երկարությամբ; կամ
c. «Միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավ է) 6,0 մկմ-ից` մեկ կամ ավելի գծային առանցքների երկայնքով, 4 մ-ի հավասար կամ ավելի մեծ քայլքի երկարությամբ:
d. Չի կիրառվում:
3. «Միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» կոորդինատային շաղափող հաստոցների համար հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավ է) 1,1 մկմ-ից` մեկ կամ ավելի գծային առանցքների երկայնքով, կամ
4. Ֆրեզերային (ճոճանակավոր) խառատային հաստոցներ, որոնք ունեն բոլոր հետևյալ բնութագրերը.
a. Շպինդելային (իլիկավոր) «դիֆուզորը» և «ճանկավոր բաշխումը» (էքսցենտրիսիտետ) պակաս է (ավելի լավ է) քան 0,0004 մմ TIR; և
b. Անկյունային երկայնքով դիրքորոշման ճշգրտությունը (առանցքից շեղվելը) պակաս է (ավելի լավ է) քան 2 վայրկյան կամարից TIR, ավելի քան 300 մմ քայլքի երկարությամբ:
c. Հղկիչ հաստոցներ, որոնք ունեն բոլոր հետևյալ բնութագրերը.
1. Ֆրեզերային հաստոցներ, որոնք ունեն բոլոր հետևյալ բնութագրերը.
a. «Միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավ է) 1,1 մկմ-ից` մեկ կամ ավելի գծային առանցքների երկայնքով; և
b. Երեք կամ ավելի առանցքներ, որոնք կարող են միաժամանակ կոորդինացվել «եզրագծային կառավարման» համար; կամ
2. Հինգ կամ ավելի առանցքներ, որոնք կարող են միաժամանակ կոորդինացվել «եզրագծային կառավարման» համար: և ունեն հետևյալ բնութագրերից որևէ մեկը.
a. «Միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» հավասար կամ պակաս է (ավելի լավ է) 1,1 մկմ-ից` մեկ կամ ավելի գծային առանցքների երկայնքով, 1 մ-ից պակաս քայլքի երկարությամբ;
b. «Միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավ է) 1,4 մկմ-ից` մեկ կամ ավելի գծային առանցքների երկայնքով, 1 մ-ին հավասար կամ դրանից պակաս և 4 մ-ից պակաս քայլքի երկարությամբ; կամ
c. «Միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավ է) 6,0 մկմ-ից` մեկ կամ ավելի գծային առանցքների երկայնքով, 4 մ-ին հավասար կամ ավելի մեծ քայլքի երկարությամբ;
Ծանոթագրություն. 2B001.c. կետով չեն վերահսկվում հետևյալ հղկիչ հաստոցները.
a. Գլանաձև արտաքին, ներքին և արտաքին-ներքին հղկիչ հաստոցները, որոնք ունեն հետևյալ բնութագրերը.
1. Սահմանափակված են գլանաձև հղկումով, և
2. Ունեն արտադրանքի` առավելագույնը 150 մմ արտաքին տրամագիծ կամ երկարություն:
b. Հաստոցներ, որոնք հատուկ նախագծված են ձուլակտորի կոորդինատային հղկման համար, և որոնք չունեն z-առանցք կամ w-առանցք, և որոնց «միակողմանի դիրքավորման կրկնվողականությունը» պակաս է (ավելի լավ է) 1,1 մկմ-ից;
c. Հարթահղկման հաստոցներ:
d. Անհաղորդալար էլեկտրական լիցքով մեքենաներ` երկու կամ ավելի պտտման առանցքներով, որոնք կարող են միաժամանակ կոորդինացվել «եզրագծային կառավարման» համար:
e. Հաստոցներ` մետաղների, կերամիկայի կամ «կոմպոզիտների» հղկման համար, որոնք ունեն հետևյալ բնութագրերից որևէ մեկը.`
1. Հղկում են նյութերը հետևյալ եղանակներից որևէ մեկով.
a. Ջրային կամ այլ հեղուկ շիթերի միջոցով, ներառյալ հղկանյութային խառնուրդներ պարունակող շիթերով,
b. Էլեկտրոնային ճառագայթով, կամ
c. «Լազերային» ճառագայթով, և
2. Որոնք ունեն առնվազն երկու կամ ավելի պտտման առանցքներ, հետևյալ բնութագրերով.
a. Կարող են միաժամանակ կոորդինացվել` «եզրագծային կառավարման» համար, և
b. Ունեն 0,003o աստիճանից ցածր (ավելի լավ) դիրքավորման «ճշգրտություն»:
f. Խոր անցքերի գայլիկոնման/շաղափման համար նախատեսված խառատային հաստոցներ և խոր անցքերի հղկման համար ձևափոխված խառատային հաստոցներ, որոնք ունեն 5 մ-ից ավելի մեծ խորությամբ անցքեր գայլիկոնելու կարողություն:
2B002 «Թվային ծրագրային կառավարմամբ» օպտիկական հղկման հաստոցներ, որոնք ունեն որոշակի նյութեր հեռացնելու կարողություն` ոչ գնդաձև օպտիկական մակերևույթների մշակման համար և ունեն բոլոր հետևյալ բնութագրերը.
a. Մշակման ճշգրտությունը 1,0 մկմ-ից միջին քառակուսու վրա պակաս է (ավելի լավ է);
b. Հղկման որակը 100 նանոմետր է կամ ավելի ճշգրիտ;
c. Ունեն չորս կամ ավելի առանցքներ, որոնք կարող են միաժամանակ կոորդինացվել «եզրագծային կառավարման համար»; և
d. Կիրառում են հետևյալ գործընթացներից որևէ մեկը.
1. Մագնետոռեոլոգիական հղկում («MRF»);
2. Էլեկտրոռելեոլոգիական հղկում («ERF»);
3. «Էներգետիկ մասնիկներով ճառագայթային հղկում»;
4. «Փչովի թաղանթային գործիքային հղկում»; կամ
5. «Հեղուկ շիթով հղկում»:
Տեխնիկական ծանոթագրություն.
2B002 կետի նպատակներով.
1. «Մագնետոռեոլոգիական հղկումը» նշանակում է նյութերի հեռացման գործընթաց, որը կիրառում է հղկող մագնիսական հեղուկ, որի կպչունությունը վերահսկվում է մագնիսական դաշտով:
2. «Էլեկտրոռեոլոգիական հղկում» նշանակում է հղկման գործընթաց, որը կիրառում է հղկող հեղուկ, որի կպչունությունը վերահսկվում է էլեկտրական դաշտով:
3. «Էներգետիկ մասնիկներով ճառագայթային հղկումը» կիրառում է ռեակտիվ ատոմային պլազմա կամ (RAP) կամ իոնային ճառագայթեր` նյութը ընտրաբար հեռացնելու համար:
4. «Փչովի թաղանթային գործիքներով հղկումը» այն գործընթացն է, որի ժամանակ ճնշման տակ գտնվող թաղանթը դեֆորմացվում է` փոքր հատվածի վրա հղկում կատարելու համար:
5. «Հեղուկի շիթով հղկման» ժամանակ հղկվող նյութը հեռացվում է հեղուկի շիթի միջոցով:
2B003 «Թվային ծրագրային կառավարումով» կամ ձեռքով կառավարվող հաստոցներ և դրանց համար հատուկ նախագծված բաղադրամասերը, կառավարման հանգույցները և հավելամասերը, որոնք հատուկ նախագծված են 1 250 մմ-ից ավելի մեծ հաշվարկային տրամագծով ուղիղատամնավոր, գլանային, միամուտք կամ երկմուտք պտուտակավոր ժանանիվների, և 15% կամ ավելի մեծ երեսակողմի լայնությամբ մակերեսով, կոփված նյութից (Rc = 40 կամ ավելի մեծ) պատրաստված մասերի թրաշման, նիստահատման, հղկման կամ ողորկման համար, այնպես որ մշակումից հետո վերջնական որակը համապատասխանի AGMA 14 կամ ավելի լավ որակի մակարդակի (ըստ ISO 1328 3-րդ կարգի միջազգային ստանդարտի):
2B004~ Տաք «իզոստատիկ մամլիչներ», որոնք ունեն բոլոր հետևյալ բնութագրերը և դրանց համար հատուկ նախագծված բաղադրամասերը և հավելամասերը;
Հ.Ծ. ՏԵՍ ՆԱԵՎ 2B104 ԵՎ 2B204:
a. Վերահսկվող ջերմային միջավայր փակ խոռոչի և փակ խցիկային խոռոչի ներսում, որի ներքին տրամագիծը հավասար է 406 մմ կամ ավելի մեծ է; և
b. Ունի հետևյալ բնութագրերից որևէ մեկը.
1. Առավելագույն աշխատանքային ճնշումը 207 ՄՊա-ից բարձր է;
2. Հսկվող ջերմային միջավայրը գերազանցում է 1773 K (1500oC); կամ
3. Ունի հարմարանք ածխաջրածնով հագեցման և քայքայման արդյունքում ստացված գազային նյութերի հեռացման համար:
Տեխնիկական ծանոթագրություն.
Խցիկի ներքին տարածաչափերը վերաբերում են այն խցիկին, որի մեջ ստացվում են և աշխատանքային ճնշումը, և աշխատանքային ջերմաստիճանը, և որը չի ներառում սեղմիչ հարմարանքի չափերը: Այդ տարածաչափերը կլինեն` ճնշումային խցիկի ներքին տրամագծի և մեկուսացված բարձր ջերմաստիճանային խցիկի ներքին տրամագծային չափերից ամենափոքրերը` կախված այն հանգամանքից, թե այդ երկու խցիկներից, որ մեկն է տեղակայված մյուսի մեջ:
Հ.Ծ. Հատուկ նախագծված մամլամատերի, կաղապարների, ձևանմուշների համար տես` 1B003, 9B009 կետերը և Ռազմական նշանակության ապրանքների վերահսկման ցանկը:
2B005 Սարքավորումներ, որոնք հատուկ նախագծված են ոչ-օրգանական ծածկույթների, ծածկույթապատող պաշտպանական շերտերի կամ մակերեսային ձևափոխումների ծածկույթապատման, մշակման և մշակման գործընթացների կառավարման համար, որոնք կատարվում են 2E003.f. կետին հաջորդող Աղյուսակի երկրորդ սյունակում ներկայացված սուբստրատների վրա, առաջին սյունակում ներկայացված գործընթացների միջոցով, և դրանց համար հատուկ նախագծված ավտոմատ տեղադրման, դիրքավորման, տեղաշարժման և կառավարման/վերահսկման բաղադրամասերը:
a. Քիմիական գազաֆազային ծածկույթապատման (CVD) համար նախատեսված` արտադրական սարքավորում, որն ունի բոլոր հետևյալ բնութագրերը.
Հ.Ծ. ՏԵՍ ՆԱԵՎ 2B105:
1. Հետևյալ մեթոդներից որևէ մեկի համար ձևափոխված գործընթացով.
a. Զարկառիթմով ԳՖՔՆ (գազաֆազային քիմիական ծածկույթապատում);
b. Վերահսկվող միջուկաստեղծմամբ ջերմային ծածկույթապատում (CNTD); կամ
c. Պլազմայով ամրացված կամ պլազմայի օգնությամբ կատարված քիմիական գազաֆազային ծածկույթապատում; և
2. Ունեն հետևյալ բնութագրերից որևէ մեկը.
a. Օգտագործելով բարձր վակուումային (հավասար կամ փոքր 0.01 Պա-ից) պտտվող խցաններ;
b. Օգտագործելով տեղում/in situ ծածկույթապատման/ծածկույթի շերտի հաստության հսկողություն:
b. իոնային իմպլանտացիայով արտադրական սարքավորում, որն ունի ճառագայթի 5 մԱ կամ ավելի ուժեղ հոսանքներ:
c. Էլեկտրոնային ճառագայթով ֆիզիկական գազաֆազային ծածկույթապատում կատարող (EB-PVD) արտադրական սարքավորում, որն օգտագործում է 80 կՎտ կամ ավելի մեծ հաշվարկային հզորություն ունեցող հոսանքի համակարգերով և ունի հետևյալ բնութագրերից որևէ մեկը.
1. Հեղուկի մակարդակը վաննայում կառավարող «լազերային» համակարգ, որը ճշգրտորեն կարգավորում է սկզբնական նյութի ձուլակտորների մատակարարման արագությունը; կամ
2. Համակարգչով կառավարվող արագության հարադիտման սարք, որը գործում է գոլորշու հոսքում իոնացված ատոմների ֆոտոլյումինեսցենտման սկզբունքով, և անհրաժեշտ է երկու կամ ավելի տարրեր պարունակող ծածկույթապատման արագությունը կանոնավորելու համար:
d. Պլազմային փոշեցրման արտադրական սարքավորում, որն ունի հետևյալ բնութագրերից որևէ մեկը.
1. Աշխատում է ցածր ճնշումով վերահսկվող միջավայրում (հավասար կամ պակաս 10 կՊա-ից, որը չափվում է պլազմային հրածորանի ծայրափողակի ելքային հատվածից 300 մմ վերև և ներքև տարածքում)` վակուումային խցիկում, որն ընդունակ է փոշեպատման գործընթացից առաջ ճնշումը նվազեցնել մինչև 0.01 Պա; կամ
2. Ապահովում է տեղում/in situ ծածկույթապատման շերտի հաստության հսկողությունը;
e. Կաթիլային ծածկույթապատման եղանակով աշխատող արտադրական սարքավորում, որը կարող ապահովել հոսանքի 0.1 մԱ/մմ2 կամ ավելի մեծ խտություն, և որի փոշեպատման արտադրողականությունը հավասար է կամ գերազանցում է 15 մկմ/ժամ:
f. Կատոդաաղեղային փոշեպատումով արտադրական սարքավորում, որն օգտագործում է էլեկտրամագնիսների ճաղացանց` կատոդի վրա աղեղի կետում հոսքի կառավարման համար:
g. Իոնային մետաղապատման արտադրական սարքավորում, որը թույլ է տալիս տեղում իրականացնել հետևյալ չափումներից որևէ մեկը.
1. Սուբստրատի վրա ենթաշերտի ծածկույթի հաստության և դրա աճի արագության վերահսկումը, կամ
2. Օպտիկական առանձնահատկությունները:
Ծանոթագրություն. 2B005 կետով չեն վերահսկվում քիմիական գազաֆազային եղանակով, կատոդաաղեղային փոշեպատման եղանակով, մետաղակաթիլային եղանակով, իոնային մետաղացման կամ իոնային իմպլանտացիայի եղանակով ծածկույթապատող սարքավորումները, որոնք հատուկ նախագծված են կտրող կամ մեքենաշինական գործիքների համար:
2B006 Տարածաչափային ստուգման կամ չափագրման համակարգեր, սարքավորումներ և «էլեկտրոնային հավաքվածքներ», ինչպիսիք են.
a. Համակարգչով կառավարվող կամ «թվային ծրագրային կառավարումով» կոորդինատների չափման մեքենաները (CMM), որոնց եռատարածաչափ (վոլումետրիկ) երկարության չափման առավելագույն թույլատրելի սխալանքը (E0ԵՉՍ), սարքի աշխատանքային տիրույթի ցանկացած կետում (այսինքն առանցքների երկարությամբ) հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավն է) (1,7 + L/1000) մկմ-ից (որտեղ L-ը երկարությունն է` չափված միլիմետրերով), համաձայն ISO 10360-2 (2009) միջազգային ստանդարտի:
Տեխնիկական ծանոթագրություն
Կոորդինատների չափման մեքենաների (CMM) համար արտադրողի կողմից հատկորոշված չափումների ամենաճշգրիտ կոնֆիգուրացիան` E0, ԵՉՍ չափումն է (օրինակ հետևյալների համար ամենալավ ցուցանիշները. զոնդ, զոնդաձողի երկարություն, շարժման սահմանների պարամետրեր, միջավայրի ցուցանիշներ) և «մատչելի համակշռման բոլոր հնարավորություններով» պետք է համեմատվի 1,7 + L/1000 մկմ սահմանային շեմի հետ:
Հ.Ծ. ՏԵ՛Ս ՆԱԵՎ 2B206:
Տեխնիկական ծանոթագրություն
2B006.b.1. կետի նպատակներով «գծային տեղաշարժում» նշանակում է չափող զոնդի և չափվող առարկայի միջև հեռավորության փոփոխություն:
b. Գծային կամ անկյունային տեղաշարժերի չափագրման գործիքները, ինչպիսիք են.
1. «Գծային տեղաշարժի» չափագրման գործիքները, որոնք ունեն հետևյալ բնութագրերից որևէ մեկը.
Ծանոթագրություն. Ինտերֆերոմետրային և օպտիկական կոդավորման տեղաշարժերի չափագրման համակարգերը, որոնք պարունակում են «լազեր», վերահսկվում են միայն 2B006.b.1.c. և 2B206.c. կետերով:
Տեխնիկական ծանոթագրություն
2B006.b.1. կետի նպատակներով «գծային տեղաշարժ» նշանակում է տարածության այն փոփոխությունը, որը կատարվում է չափագրող զոնդի և չափվող օբյեկտի միջև.
a. Ոչ կոնտակտային /անհպում տեսակի չափագրող համակարգերը, որոնց «ռեզոլյուցիան» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավն է) 0,2 մկմ-ից` 0,2 մմ չափագրման ընդգրկույթում;
b. Գծային փոփոխական դիֆերենցիալ փոխակերպիչ (LVDT) համակարգերը, որոնք ունեն բոլոր հետևյալ բնութագրերը.
1. Ունեն հետևյալ բնութագրերից որևէ մեկը.
a. «Գծայնությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավն է) 0,1%-ից` չափված 0-ից մինչև «լրիվ աշխատանքային տիրույթի» շեմը, Գծային փոփոխական դիֆերենցիալ փոխակերպիչների համար, «լրիվ աշխատանքային տիրույթով»` մինչև և ներառյալ +- 5 մմ; կամ
b. «Գծայնությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավն է) 0,1%-ից` չափված 0-ից մինչև 5 մմ գծային փոփոխական դիֆերենցիալ փոխակերպիչների համար, «լրիվ աշխատանքային տիրույթում», որը մեծ է +- 5 մմ-ից; և
2. Տեղաշարժի շեղումը օրվա ընթացքում հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավ է) 0,1%-ից` փորձարկման սենյակի ստանդարտ ջերմաստիճանում +- 1K:
Տեխնիկական ծանոթագրություն
2B006.b.1.b. կետի նպատակներով «լրիվ աշխատանքային տիրույթը» գծային փոփոխական դիֆերենցիալ փոխակերպչի (LVDT) ընդհանուր հնարավոր գծային տեղաշարժի կեսն է: Օրինակ` գծային փոփոխական դիֆերենցիալ փոխակերպչի (LVDT) «լրիվ աշխատանքային տիրույթը» մինչև և +- 5 մմ-ի հավասար չափով կարող է չափել 10 մմ ընդհանուր հնարավոր գծային տեղաշարժ:
c. Չափման համակարգեր, որոնք ունեն բոլոր հետևյալ բնութագրերը.
1. Պարունակում են «լազեր»;
2. Ամբողջ տիրույթի համար «ռեզոլյուցիան» հավասար է 0,200 նմ կամ ավելի պակաս (ավելի լավը); և
3. Կարող են ստանալ «չափման սխալանք», որը հավասար է կամ պակաս է (ավելի լավն է) (1,6 + L/2000) նմ-ից (որտեղ L-ը երկարությունն է` չափված միլիմետրերով), չափման տիրույթի ցանկացած կետում` հավասարակշռված օդի բեկման ցուցիչով և չափված 30 վայրկյանի ընթացքում 20 +- 0,01oC ջերմաստիճանում; կամ
d. «էլեկտրոնային հավաքվածքները», որոնք հատուկ նախագծված են 2B006.b.1.c. կետով հատկորոշված համակարգերում հետառկա կապ ի կարողություն ստեղծելու համար:
Ծանոթագրություն. 2B006.b.1. կետով չի վերահսկվում ինտերֆերաչափական համակարգերի չափագրումը, որոնք ունեն ավտոմատ աշխատող վերահսկման համակարգ, որը նախագծված է առանց հետառկա կապի տեխնոլոգիաներ օգտագործելու աշխատելու համար, որոնք ունեն «լազեր»` մեքենայական հաստոցների, տարածաչափային ստուգման մեքենաների կամ նմանատեսակ սարքավորման տեղաշարժի սխալանքները չափելու համար:
2. Անկյունային տեղաշարժ չափագրող գործիքներ, որոնց անկյունային դիրքի «ճշգրտությունը» հավասար է կամ պակաս է (ավել լավ է) 0,00025o-ից:
Ծանոթագրություն. 2B006.b.2. կետով չեն վերահսկվում այնպիսի օպտիկական գործիքներ, ինչպիսիք են ավտոկոլիմատորները, որոնք օգտագործում են կոլիմացված լույս (օրինակ «լազերային» լույս) հայելու անկյունային շեղումը բացահայտելու համար:
b. Մակերևույթի անհարթությունները չափագրող սարքերը (ներառյալ մակերևույթի դեֆեկտները)` օպտիկական ցրումը որպես անկյան ֆունկցիա չափելու միջոցով, 0,5 նմ կամ ավելի պակաս (ավելի լավ) զգայունությամբ:
Ծանոթագրություն. 2B006 կետը ներառում է այն հաստոցները, բացի նրանցից, որոնք հատկորոշված են 2B001 կետում, որոնք կարող են օգտագործվել որպես չափագրման մեքենաներ, եթե դրանք բավարարում են կամ գերազանցում են չափագրող մեքենաների համար հատկորոշված չափանիշները:
2B007 «Ռոբոտներ», որոնք ունեն հետևյալ բնութագրերից որևէ մեկը, և դրանց համար հատուկ նախագծված հսկիչ սարքերը և «աշխատանքային օրգանները»:
Հ.Ծ. ՏԵ՛Ս ՆԱԵՎ 2B207:
a. Ընդունակ են իրական ժամանակում կատարել լիարժեք եռատարածաչափ պատկերային մշակում կամ լիարժեք եռատարածաչափ «պատկերային վերլուծություն»` «ծրագրեր» ստեղծելու կամ ձևափոխելու համար, կամ կարող են ստեղծել կամ ձևափոխել թվային ծրագրային տվյալներ:
Տեխնիկական ծանոթագրություն. «Պատկերային վերլուծության սահամանփակումը չի ներառում երրորդ տարածաչափի մոտարկումը`` հաստատված առաջադրանքների կատարման համար որևէ տրված անկյան տակ դիտելու կամ սահմանափակ կիսաստվերային գունային սանդղակով մեկնաբանելու միջոցով` խորության կամ նյութի տեքստուրայի ընկալման համար (21 / 2D):
b. Հատուկ նախագծված են ազգային անվտանգության ստանդարտների հետ համապատասխանելու համար, որոնք կիրառելի են կարողական պայթուցիկ զինամթերային միջավայրերի նկատմամբ;
Ծանոթագրություն. 2B007.b. կետը չի վերահսկում այն «ռոբոտներին», որոնք հատուկ նախագծված են ներկացրող խցիկներում օգտագործվելու համար:
c. Հատուկ նախագծված են կամ որակավորված որպես ճառագայթման նկատմամբ դիմացկուն, և ընդունակ են դիմանալու ավելի քան 5x10(5) Gy (silicon)/ ռադ ճառագայթման գումարային դոզային` առանց աշխատանքային բնութագրերի վատթարացման, կամ
Տեխնիկական ծանոթագրություն. Gy (silicon) ռադ արտահայտությունը վերաբերում է չէկրանավորված սիլիցիումի նմուշի կողմից կլանված իոնացնող ճառագայթման էներգիային (արտահայտված Ջ/կգ-ով):
c. Հատուկ նախագծված են 30000մ գերազանցող բարձրությունների վրա աշխատելու համար:
2B008 Հաստոցների կամ սարքավորումների հավաքվածքներ կամ հատուկ նախագծված հանգույցներ, մեքենայական գործիքների հանգույցներ, կամ տարածաչափային ստուգման կամ չափագրման համակարգեր կամ սարքավորումներ, ինչպիսիք են.
a. Գծային դիրքի հետառկա կապով գնահատման հանգույցները, որոնց ընդհանուր «ճշգրտության» աստիճանը ավելի ցածր է (ավելի լավն է) քան (800 +(600 x L/1000)) նմ (որտեղ L հավասար է արդյունավետ աշխատանքային երկարությանը` հաշվարկված միլիմետրերով):
Հ.Ծ. «Լազերային» համակարգերի համար տես նաև 2B006.b.1.c., 2B006.b.d. և 2B206.c. կետերը:
b. Պտույտի դիրքի գնահատման հետառկա կապի հանգույցները, որոնց ընդհանուր «ճշգրտության» աստիճանը ավելի ցածր է (ավելի լավն է)` քան 0,00025o;
Հ.Ծ. «Լազերային» համակարգերի համար տես նաև 2B006.b.2. կետը:
Ծանոթագրություն 2B008.a. և 2B008.b. կետերով վերահսկվում են այն հանգույցները, որոնք նախագծված են դիրքավորման տվյալները պարզելու համար հետառկա կապով վերահսկման/կառավարման նպատակով, ինչպիսիք են օրինակ, ինդուկցիոն տեսակի սարքերը, աստիճանակարգված սանդղակները, ինֆրակարմիր համակարգերը կամ «լազերային» համակարգերը:
d. «Բաղադրակազմ պտտվող սեղանները» կամ «թեքվող իլերը», որոնց կիրառումը` արտադրողի հատկորոշումներին համապատասխան, կարող է բարելավվել, հաստոցներ, որոնք համապատասխանում են կամ ավելի բարձր են 2B կետում հատկորոշված մակարդակից:
----------------------------------------------------
ԻՐՏԵԿ - շարունակությունը հաջորդ մասերում